Módulos/Asignaturas del Curso

Módulo/Asignatura 1. Técnicas de Caracterización Superficial Nanométricas (AFM, STM y FESEM). Capacitación en el Manejo de los Microscopios PicoPlus 2500 e Hitachi S5200

Número de créditos: 3,00 ECTS

Modalidad de impartición: Presencial

Fechas de inicio-fin: 15/06/2015 - 15/07/2015

Horario: Lunes, Martes, Miércoles, Jueves, Viernes. En horario de mañana y tarde

Contenido:

1. Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico de barrido y microscopios de barrido por sonda.
2. Fundamentos de la microscopia AFM-STM.
3. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido: interacción electrón-materia, resolución.
4. Modos de operación con Microscopio AFM-STM Pico Scan 2500:
-AFM Contacto
-AFM Contacto intermitente
-STM Corriente constante.
5. Medidas de dominios magnéticos, Magnetic Force Microscopy (MFM).
6. Operación con el FESEM Hitachi S5200.
7. Captura de imagen en FESEM Hitachi S5200.
8. Técnicas para observación de muestras según su naturaleza y conductividad.
9. Técnicas de preparación de muestras.