El objetivo del curso es iniciar a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en las técnicas de observación de microscopía electrónica de barrido, empleando alto y bajo vacío. Se pretende que, al finalizar el mismo, conozcan toda la potencialidad de las diferentes técnicas, las ventajas e inconvenientes de trabajar en un modo u otro, y sean capaces de elegir adecuadamente el modo de trabajo según sus muestras. El curso consta de una parte teórica (3 horas), 2 sesiones de demostración práctica en grupos de 4 alumnos (3 y 2 horas) y 2 sesiones de práctica en el microscopio en grupos de 3 alumnos (3.5 horas/ sesión).
Procedimientos de Evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
No existen requisitos de acceso.
Criterios de selección de alumnos:
Orden de Preinscripción.
Dirección
Unidad Promotora:
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Director de los estudios:
D. Jesús Cintas Físico
Departamento del Director:
Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
Impartición
Idioma de impartición:
Español
Lugar de impartición:
Centro de Investigacion Tecnologica e Innovacion (C.I.T.I.U.S.) (Servicio de Microscopía. Edificio CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla))