Ese curso se oferta dado el interés de los usuarios del Servicio de Investigación "SGI Laboratorio de Rayos X" en el conocimiento y manejo del software de tratamiento de datos obtenidos por difracción de rayos X. El principal objetivo del curso es posibilitar que el alumnado adquiera una formación inicial en distintas técnicas instrumentales utilizadas en las medidas de difracción de Rayos X, así como formarlo para la interpretación cualitativa y cuantitativa de los diagramas de difracción.

El curso incluye técnicas de interpretación cualitativa de los diagramas de difracción de rayos X, incluyendo el manejo de aplicaciones informáticas que permiten el empleo de bases de datos cristalográficas para la detección de fases cristalinas, así mismo realización de análisis cuantitativo de las diferentes fases halladas mediante el empleo de procedimientos estandarizados de cálculo y la introducción al alumno en el manejo de software DIFFRAC.EVA.

Este curso incluye el manejo del software DIFFRAC.TOPAS. Se formará al alumno en el análisis de difractogramas mediante la aproximación de parámetros fundamentals (métodos de Pawley y Le Bail), análisis microstructural, método Rietveld y análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfos usando DIFFRAC.TOPAS.

Habilidad de interpretación y análisis de diagramas de difracción de Rayos X.
Habilidad de preparación de muestras para la adquisición de diagramas de DRX.
Habilidad para el análisis cuantitativo de fases cristalinas por DRX.
Habilidad para el refinamiento y ajuste de difractogramas.
Habilidad para el análisis cuantitativo mediante DIFFRAC.TOPAS.
Habilidad para el análisis microestructural.

Asistencia, Trabajos