Director
D. Jesús Cintas Físico
(Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 15/06/2015 al 15/07/2015
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Servicio de Microscopía - CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
180,00 €
(tasas incluidas)
3,00 ECTS
Prácticas
No
Preinscripción
Del 01/05/2015 al 20/05/2015
Matrícula
Del 01/05/2015 al 20/05/2015
Objetivos
<p><p>Es más que conocido el interés creciente en la investigación en tecnologías y desarrollo de productos a escala nanométrica. </p><p>El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía para el estudio de materiales a escala nanométrica.</p><p>Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar de modo autónomo tanto el microscopio de alta resolución FESEM Hitachi S5200, como el microscopio AFM/STM Molecular Imaging PicoPlus 2500.</p><p>El curso es eminentemente práctico, por lo que contiene un total de 20 horas de uso de los microscopios.</p><br /></p></p>
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 15/06/2015 - 15/07/2015
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
1. Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico de barrido y microscopios de barrido por sonda.
2. Fundamentos de la microscopia AFM-STM.
3. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido: interacción electrón-materia, resolución.
4. Modos de operación con Microscopio AFM-STM Pico Scan 2500:
-AFM Contacto
-AFM Contacto intermitente
-STM Corriente constante.
5. Medidas de dominios magnéticos, Magnetic Force Microscopy (MFM).
6. Operación con el FESEM Hitachi S5200.
7. Captura de imagen en FESEM Hitachi S5200.
8. Técnicas para observación de muestras según su naturaleza y conductividad.
9. Técnicas de preparación de muestras.
Profesorado
Personal Académico
- Dª. Consuelo Cerrillos González - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Francisco Manuel Varela Feria - Servicio de Microscopía-CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
Profesorado
- Dª. Consuelo Cerrillos González - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Francisco Manuel Varela Feria - Servicio de Microscopía-CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte