Director
D. Jesús Cintas Físico
(Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 10/01/2017 al 24/02/2017
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Servicio de Microscopía-CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
350,00 €
(tasas incluidas)
3,00 ECTS
Prácticas
No
Preinscripción
Del 01/12/2016 al 20/12/2016
Matrícula
Del 01/12/2016 al 20/12/2016
Objetivos
<p>El objetivo del curso es iniciar a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en las técnicas de observación de microscopía electrónica de barrido, empleando alto y bajo vacío, condiciones ambientales, y criosem.<br />Se pretende que, al finalizar el mismo, conozcan toda la potencialidad de las diferentes técnicas, las ventajas e incovenientes de trabajar en un modo u otro, y sean capaces de elegir adecuadamente el modo de trabajo según sus muestras.<br />Asimismo, se incidirá en las técnicas de preparación de muestras.<br />El curso consta de una parte teórica (4 horas), 3 sesiones de demostración práctica en grupos de 4 alumnos (6, 5 y 4 horas), y una sesión de demostración, también en grupos de 4 alumnos, sobre técnicas de preparación de muestras (6 horas).</p>
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 10/01/2017 - 24/02/2017
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
1. Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico barrido.
2. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido.
3. Ventajas e inconvenientes de los diferentes modos de trabajo.
4. Técnicas de preparación de muestras.
4.1. Técnicas de recubrimiento para muestras no conductoras.
4.2. Técnicas de fijación y deshidratación para muestras que contienen agua.
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 10/01/2017 - 24/02/2017
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
5. Análisis y comparación de imágenes obtenidas en:
5.1. Alto y bajo vacío. Detector de electrones secundarios y retrodispersados (ETSE y HDBDS).
5.2. Modo ambiental. Detector de electrones secundarios de presión ambiental y retrodispersados
(ESE y HDBDS).
5.3. Crio. Detector de electrones secundarios y retrodispersados (ETSE Y HDBDS).
Profesorado
Personal Académico
- Dª. Cristina Vaquero Aguilar - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
Profesorado
- Dª. Cristina Vaquero Aguilar - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte