Director
D. Jesús Cintas Físico
(Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 06/02/2017 al 13/03/2017
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Servicio de Microscopía - CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
350,00 €
(tasas incluidas)
3,00 ECTS
Prácticas
No
Preinscripción
Del 01/01/2017 al 20/01/2017
Matrícula
Del 01/01/2017 al 20/01/2017
Objetivos
<p><p>La investigación en tecnologías y desarrollo de productos a escala micro y nanométrica es un campo de gran interés en la actualidad. Por eso, se hace necesario conocer herramientas que permitan estudiar los materiales a estas escalas.<br />El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.<br />Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar, de modo autónomo y a nivel básico, el microscopio de última generación FEGTEM FEI TALOS.<br />El curso es eminentemente práctico, conteniendo un total de 10 horas demostrativas en el microscopio.</p></p>
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 06/02/2017 - 13/03/2017
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
1.- Teoría
1.1.- Principios básicos: Normas y riesgos asociados al uso de microscopios electrónicos de
transmisión.
1.2.- Fundamentos de la microscopía electrónica de transmisión: contrastes, campo claro, campo
oscuro, difracción.
1.3.- Alineamiento y corrección de aberraciones.
1.4.- Captura de imágenes y diagramas de difracción.
1.5.- Técnicas para la observación de muestras según su naturaleza.
1.6.- Introducción al microanálisis por rayos X.
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 06/02/2017 - 13/03/2017
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
2.- Prácticas Guiadas:
2.1.- Introducción a la interfaz de usuario y otros programas.
2.2.- Configuración optima del cañón para diferentes aplicaciones
2.3.- Alineamientos directos para TEM y HRTEM
2.4.- Optimización de uso de cámara CETA
2.5.- Difracción: adquisición con SmartCam y Ceta.
2.6.- STEM: utilización basica
2.7.- HRSTEM
2.8.- Microanáilis y mapping TEM y STEM.
3.- Prácticas Individuales:
Manejo del microscopio de forma individual.
Profesorado
Personal Académico
- D. Francisco Manuel Varela Feria - Servicio de Microscopía-CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
Profesorado
- D. Francisco Manuel Varela Feria - Servicio de Microscopía-CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte