Director
D. Jesús Cintas Físico
(Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 21/05/2018 al 05/07/2018
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Servicio de Microscopía - CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
Preinscripción
Del 19/03/2018 al 20/04/2018
Matrícula
Del 02/04/2018 al 20/04/2018
Objetivos
<p>La investigación en tecnologías y desarrollo de productos a escala micro y nanométrica es un campo de gran interés en la actualidad. Por eso, se hace necesario conocer herramientas que permitan estudiar los materiales a estas escalas.<br />El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía electrónica de barrido de alta resolución.<br />Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar, de modo autónomo y a nivel básico, el microscopio de última generación FESEM FEI TENEO.<br />El curso es eminentemente práctico, conteniendo un total de 12 horas demostrativas en el microscopio.</p>
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 21/05/2018 - 05/07/2018
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
1.- Teoría (2 h, más 6 horas de consultas sobre el trabajo teórico)
1.1.- Principios básicos:
Interacción del haz de electrones con la materia. Tipos de señales generadas. Volumen de interacción.
1.2.- Partes del Microscopio FEI Teneo
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 21/05/2018 - 05/07/2018
Horario: Lunes en Mañana y Tarde
Contenido
2.- Prácticas Guiadas (8 h, en grupos de 3 personas):
2.1.- Precauciones con el manejo del Microscopio TENEO. Introducción de la muestra. Uso de la NavCam y sistema de navegación.
2.2.- Uso de los detectores:
-ETD: Detector de electrones secundario Everthart-Thomley y
-BSD: Detector de electrones retrodispersados segmentado.
Ajuste de parámetros para la obtención de imagen: Distancia de trabajo, foco, astigmatismo,
brillo/contraste, voltaje y spot.
Modos de barrido.
2.3.- Técnica de Microanálisis por Espectroscopia de Energía Dispersiva (EDS) en Microscopía
Electrónica de Barrido. Manejo del software EDAX.
2.4.- Software (MAPS) para la realización y montaje automatizado de imágenes de grandes áreas de
trabajo.
3.- Prácticas Individuales (4 h):
Manejo del microscopio de forma individual.
Profesorado
Personal Académico
- Dª. Consuelo Cerrillos González - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
Profesorado
- Dª. Consuelo Cerrillos González - Servicio de Microscopía - CITIUS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte