Director
D. Joaquín Ramírez Rico
(Física de la Materia Condensada)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 01/02/2021 al 05/02/2021
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Aula TIC2
Preinscripción
Del 01/11/2020 al 10/01/2021
Matrícula
Del 22/12/2020 al 10/01/2021
Objetivos
<p><p>Ese curso se oferta dado el interés de los usuarios del Servicio de Investigación "SGI Laboratorio de Rayos X" en el conocimiento y manejo del software de tratamiento de datos obtenidos por difracción de rayos X. El principal objetivo del curso es posibilitar que el alumnado adquiera una formación inicial en distintas técnicas instrumentales utilizadas en las medidas de difracción de Rayos X, así como formarlo para la interpretación cualitativa y cuantitativa de los diagramas de difracción. </p><p>El curso incluye técnicas de interpretación cualitativa de los diagramas de difracción de rayos X, incluyendo el manejo de aplicaciones informáticas que permiten el empleo de bases de datos cristalográficas para la detección de fases cristalinas, así mismo realización de análisis cuantitativo de las diferentes fases halladas mediante el empleo de procedimientos estandarizados de cálculo y la introducción al alumno en el manejo de software DIFFRAC.EVA.</p><p>Este curso incluye el manejo del software DIFFRAC.TOPAS. Se formará al alumno en el análisis de difractogramas mediante la aproximación de parámetros fundamentals (métodos de Pawley y Le Bail), análisis microstructural, método Rietveld y análisis cuantitativo de fases cristalinas y amorfos usando DIFFRAC.TOPAS.</p><br /><br /></p></p>
Competencias
Habilidad de interpretación y análisis de diagramas de difracción de Rayos X.
Habilidad de preparación de muestras para la adquisición de diagramas de DRX.
Habilidad para el análisis cuantitativo de fases cristalinas por DRX.
Habilidad para el refinamiento y ajuste de difractogramas.
Habilidad para el análisis cuantitativo mediante DIFFRAC.TOPAS.
Habilidad para el análisis microestructural.
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Requisitos específicos de admisión a los estudios
- Este curso está dirigido a cualquier persona interesada, pero especialmente a investigadores, técnicos y alumnos universitarios que tengan relación con la difracción de rayos X.
Criterios de selección de alumnos
- Orden de Preinscripción.
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 01/02/2021 - 05/02/2021
Horario: Lunes Mañana y Tarde, Martes Mañana y Tarde, Miércoles Mañana y Tarde, Jueves Mañana y Tarde, Viernes Mañana y Tarde
Contenido
Fundamentos de la Difracción de Rayos X. Interacción de la radiación con la materia. Producción de Rayos X. Métodos de difracción de Rayos X. Factores que afectan a la intensidad de los Rayos-X difractados.
Estrategias para la adquisición de datos. Medida y evaluación de errores. Procedimientos generales de reducción de datos.
Introducción al análisis cuantitativo de fases cristalinas.
Ajuste de perfiles. La aplicación DIFFRAC.TOPAS.
Parámetros de pico. Fundamentos y definiciones. Funciones analíticas.
Análisis basados en modelos no estructurales. Ajuste de picos puntuales. Ajuste de un grupo de picos.
Aproximación de parámetros fundamentales. Descomposición de diagramas. Ajuste de parámetros de red.
Análisis microestructural.
Refinamiento estructural mediante el Método Rietveld. I.- Intensidad de los picos: orígenes y fundamentos.
Refinamiento estructural mediante el Método Rietveld. II.- Análisis Rietveld con el programa Topas.
Análisis cuantitativo de fases mediante el método Rietveld.
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 01/02/2021 - 05/02/2021
Horario: Lunes Mañana y Tarde, Martes Mañana y Tarde, Miércoles Mañana y Tarde, Jueves Mañana y Tarde, Viernes Mañana y Tarde
Contenido
Montaje de muestras en difractómetro de Rayos X.
Estrategias para la adquisición de datos. Medida y evaluación de errores. Procedimientos generales de reducción de datos.
Análisis cualitativo de fases cristalinas. Desarrollo de rutinas de evaluación.
Manejo y mantenimiento de bases de datos PDF (Powder Difraction File). Manipulación de bases de datos ICCD con formatos PDF2, PDF4 y COD (Cristallography Open Database). Creación y empleo de bases de datos por el usuario.
Introducción al análisis cuantitativo de fases cristalinas.
Análisis microestructural.
Refinamiento estructural mediante el Método Rietveld. II.- Análisis Rietveld con el programa DIFFRAC.TOPAS.
Análisis cuantitativo de fases mediante el método Rietveld.
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 01/02/2021 - 05/02/2021
Horario: Lunes Mañana y Tarde, Martes Mañana y Tarde, Miércoles Mañana y Tarde, Jueves Mañana y Tarde, Viernes Mañana y Tarde
Contenido
Visita al SGI Laboratorio de Rayos X.
Montaje de muestras en difractómetro de Rayos X.
Apoyo en clases prácticas
Profesorado
Personal Académico
- D. Joaquín Ramírez Rico . Universidad de Sevilla - Física de la Materia Condensada
- Dª. Patricia Aparicio Fernández . Universidad de Sevilla - Cristalografía, Mineralogía y Química Agrícola
- D. Santiago Medina Carrasco - PTGAS
Profesorado
- D. Francisco Rodríguez Padial - PTGAS
- D. Joaquín Ramírez Rico . Universidad de Sevilla - Física de la Materia Condensada
- D. Santiago Medina Carrasco - PTGAS