Director
D. Jesús Cintas Físico
(Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte)
Unidad Promotora
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Impartición
Del 16/10/2023 al 17/11/2023
Modalidad
Presencial
Idioma de impartición
Español
Lugar de impartición
Servicio de Microscopía. Edificio CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
240,00 €
(tasas incluidas)
2,00 ECTS
Prácticas
No
Preinscripción
Del 01/09/2023 al 20/09/2023
Matrícula
Del 01/09/2023 al 20/09/2023
Objetivos
El objetivo del curso es iniciar a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en las técnicas de observación de microscopía electrónica de barrido, empleando alto y bajo vacío.
Se pretende que, al finalizar el mismo, conozcan toda la potencialidad de las diferentes técnicas, las ventajas e inconvenientes de trabajar en un modo u otro, y sean capaces de elegir adecuadamente el modo de trabajo según sus muestras.
El curso consta de una parte teórica (3 horas), 2 sesiones de demostración práctica en grupos de 4 alumnos (3 y 2 horas) y 2 sesiones de práctica en el microscopio en grupos de 3 alumnos (3.5 horas/ sesión).
Procedimiento de evaluación
Asistencia, Trabajos
Requisitos
Criterios de selección de alumnos
- Orden de Preinscripción.
Módulos / Asignaturas
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 16/10/2023 - 17/11/2023
Horario: Lunes Mañana y Tarde, Martes Mañana y Tarde, Miércoles Mañana y Tarde, Jueves Mañana y Tarde, Viernes Mañana y Tarde
Contenido
1. Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico barrido.
2. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido.
3. Ventajas e inconvenientes de los diferentes modos de trabajo.
4. Técnicas de preparación de muestras.
4.1. Técnicas de recubrimiento para muestras no conductoras.
Modalidad de impartición: Presencial
Fechas de inicio-fin: 16/10/2023 - 17/11/2023
Horario: Lunes Mañana y Tarde, Martes Mañana y Tarde, Miércoles Mañana y Tarde, Jueves Mañana y Tarde, Viernes Mañana y Tarde
Contenido
5. Análisis y comparación de imágenes obtenidas en:
5.1. Alto y bajo vacío. Detector de electrones secundarios y retrodispersados (ETSE y HDBDS).
5.2. Detector de Rayos X.
Profesorado
Personal Académico
- Dª. Cristina Vaquero Aguilar - PTGAS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte
- D. Juan Luis Ribas Salgueiro - PTGAS
Profesorado
- Dª. Cristina Vaquero Aguilar - PTGAS
- D. Jesús Cintas Físico . Universidad de Sevilla - Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte