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Universidad de Sevilla Centro de Formación Permanente

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Curso de Formación Continua

Curso Académico 2010-2011

TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL NANOMÉTRICAS: AFM, STM Y FESEM (II EDICIÓN)

Preinscripción:
Del 14/04/2011 al 30/04/2011
Matrícula:
Del 01/05/2011 al 20/05/2011
Impartición:
Del 07/06/2011 al 30/09/2011
Precio (euros):
195,00 (tasas incluidas)
Director de los estudios:
D. Manuel Jiménez Melendo
Número de créditos:
3,00 ECTS
Modalidad:
Presencial

Objetivos

Se oferta este curso dado el interés creciente de los grupos de investigación en tecnologías y desarrollo de productos a escala nanométrica. El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos tanto a nivel teórico como práctico, de forma que al finalizar el mismo sean capaces de manejar el microscopio de alta resolución FESEM Hitachi S5200 y el microscopio AFM/STM Molecular Imaging PicoScan 2500 para la caracterización de materiales nanométricos, y saber analizar los resultados.

Procedimientos de Evaluación

Asistencia, Pruebas

Requisitos

No existen requisitos de acceso.

Dirección

Unidad Promotora:
Centro de Investigación Tecnológica e Innovación (C.I.T.I.U.S.)
Director de los estudios:
D. Manuel Jiménez Melendo
Departamento del Director:
Física de la Materia Condensada

Impartición

Lugar de impartición:
Servicio de Microscopía-CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)
Prácticas en empresa/institución:
No

Información

Teléfono:
954556076

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